The spring semester 2021 will certainly take place online until Easter. Exceptions: Courses that can only be carried out with on-site presence. Please note the information provided by the lecturers.

Lukas Meier: Courses in Spring Semester 2016

Name Dr. Lukas Meier
Address
Seminar für Statistik (SfS)
ETH Zürich, HG G 15.2
Rämistrasse 101
8092 Zürich
SWITZERLAND
Telephone+41 44 632 97 49
E-maillukas.meier@stat.math.ethz.ch
URLhttp://stat.ethz.ch/~meier/
DepartmentMathematics
RelationshipLecturer

NumberTitleECTSHoursLecturers
401-0612-00LStatistics and Probability Theory Information 5 credits3V + 1U
401-0612-00 VStatistik und Wahrscheinlichkeitsrechnung
Am Dienstag beginnt die Vorlesung um 10:00.
Die Zwischenprüfung ist für den Dienstag, 3. Mai 2016 geplant.
3 hrs
Tue10-12HPH G 2 »
Thu08-09HPH G 2 »
L. Meier
401-0612-00 UStatistik und Wahrscheinlichkeitsrechnung1 hrs
Thu09-10HCI D 2 »
09-10HCI H 2.1 »
09-10HCI H 8.1 »
09-10HIL B 21 »
09-10HIL E 7 »
09-10HIL F 10.3 »
09-10HPH G 2 »
09-10HPT C 103 »
L. Meier
401-0620-00LStatistical Consulting0 credits0.1K
401-0620-00 KStatistischer Beratungsdienst
Tel. 044 632 2223
E-Mail beratung@stat.math.ethz.ch
0.1 hrsby appt.M. Kalisch, L. Meier
401-4620-00LStatistics Lab Restricted registration - show details
Number of participants limited to 27.
6 credits2S
401-4620-00 SStatistics Lab
Substantial additional time is required for attending the consulting sessions, carrying out the data analysis and writing of the report. The dates/times for the sessions are arranged on an individual basis. More information is given during the first seminar lecture.
2 hrs
Wed15-17HG E 33.1 »
M. Kalisch, M. H. Maathuis, L. Meier, N. Meinshausen
401-5640-00LZüKoSt: Seminar on Applied Statistics Information 0 credits1K
401-5640-00 KZüKoSt: Seminar on Applied Statistics
**gemeinsam mit der Uni Zürich**

Nach besonderem Programm gemäss Ankündigung, Koordination M. Kalisch Tel. 044 632 3435
10s hrs
Thu16-18HG G 19.1 »
M. Kalisch, P. L. Bühlmann, R. Furrer, L. Held, T. Hothorn, M. H. Maathuis, M. Mächler, L. Meier, N. Meinshausen, M. Robinson, C. Strobl, S. van de Geer