151-0172-00L
Microsystems II: Devices and Applications
| Semester | Frühjahrssemester 2025 |
| Dozierende | C. Hierold,
C. I. Roman |
| Periodizität | jährlich wiederkehrende Veranstaltung |
| Lehrsprache | Englisch |
| Information zur Leistungskontrolle (gültig bis die Lerneinheit neu gelesen wird) |
Leistungskontrolle als Semesterkurs |
| ECTS Kreditpunkte | 6 KP |
| Prüfende | C. Hierold,
C. I. Roman |
| Form | Sessionsprüfung |
| Prüfungssprache | Englisch |
| Repetition | Die Leistungskontrolle wird in jeder Session angeboten. Die Repetition ist ohne erneute Belegung der Lerneinheit möglich. |
| Prüfungsmodus | mündlich 20 Minuten |
| Diese Angaben können noch zu Semesterbeginn aktualisiert werden; verbindlich sind die Angaben auf dem Prüfungsplan. |
